測量精度
2.5+L/200重復精度
2.5um總放大倍率
18~195X物方視場
8.1~1.3mm工作距離
82mm光柵尺解析度
0.1um測量精度
2.5+L/200重復精度
2.5um總放大倍率
18~195X物方視場
8.1~1.3mm工作距離
82mm光柵尺解析度
0.1um測量精度
2.5+L/200重復精度
2.5um總放大倍率
18~195X物方視場
8.1~1.3mm工作距離
82mm光柵尺解析度
0.1um測量精度
2.5+L/200重復精度
2.5um總放大倍率
18~195X物方視場
8.1~1.3mm工作距離
82mm光柵尺解析度
0.1um測量精度
2.5+L/200重復精度
2.5um總放大倍率
18~195X物方視場
8.1~1.3mm工作距離
90mm光柵尺解析度
0.5um測量精度
2.5+L/200重復精度
2.5um總放大倍率
18~195X物方視場
8.1~1.3mm工作距離
90mm光柵尺解析度
0.5um測量精度
2.5+L/200重復精度
2.5um總放大倍率
18~195X物方視場
8.1~1.3mm工作距離
90mm光柵尺解析度
0.5um測量精度
2.5+L/200重復精度
2.5um總放大倍率
18~195X物方視場
8.1~1.3mm工作距離
90mm光柵尺解析度
0.5um測量精度
2.5+L/100重復精度
2.5um總放大倍率
18~195X物方視場
8.1~1.3mm工作距離
90mm光柵尺解析度
0.5um測量精度
2.5+L/100重復精度
2.5um總放大倍率
18~195X物方視場
8.1~1.3mm工作距離
90mm光柵尺解析度
0.5um測量精度
2.5+L/100重復精度
2.5um總放大倍率
18~195X物方視場
8.1~1.3mm工作距離
90mm光柵尺解析度
0.5um測量精度
2.5+L/100重復精度
2.5um總放大倍率
18~195X物方視場
8.1~1.3mm工作距離
90mm光柵尺解析度
0.5um測量精度
2.5+L/200重復精度
2.5um總放大倍率
25.2~158.4X物方視場
8.1~1.3mm工作距離
90mm光柵尺解析度
0.1um測量精度
重復精度
總放大倍率
物方視場
工作距離
光柵尺解析度
新聞資訊
News時間:12-27 2024 來自:祥宇精密
影像測量儀通過光學鏡頭捕捉被測物體的圖像,并利用計算機軟件對圖像進行處理和分析,從而獲得物體的尺寸、形狀等信息。其工作原理主要包括以下幾個步驟:
影像測量儀常用的光源類型主要有以下幾種:
環形光是一種常見的光源類型,通常安裝在鏡頭周圍,形成一個均勻的光環。其主要特點包括:
同軸光是一種特殊的光源類型,其光線與鏡頭的光軸重合。其主要特點包括:
背光是一種從被測物體背面照射的光源類型。其主要特點包括:
點光源是一種集中在一個小區域內的光源類型。其主要特點包括:
線光源是一種沿一條直線分布的光源類型。其主要特點包括:
不同的光源類型對影像測量儀的測量結果有著重要影響。具體表現在以下幾個方面:
不同類型的光源對圖像質量的影響不同。例如,環形光能夠提供均勻的照明,減少陰影和反光的影響,使圖像更加清晰;而同軸光能夠消除陰影,增強反射,使圖像的對比度更高。
不同類型的光源對測量精度的影響也不同。例如,背光能夠突出物體的輪廓,減少表面紋理和顏色的干擾,提高測量精度;而點光源能夠提供聚焦的照明,突出特定區域的細節,提高局部測量的精度。
不同類型的光源對測量效率的影響也不容忽視。例如,環形光和線光源能夠提供均勻的照明,減少圖像處理的時間,提高測量效率;而同軸光和點光源雖然能夠提高測量精度,但可能會增加圖像處理的時間,降低測量效率。
不同類型的光源適用于不同的測量任務和對象。例如,同軸光適用于光滑、反光較強的物體,如金屬表面、鏡面等;而背光適用于透明或半透明的物體,如玻璃、薄膜等。
400-801-9255